將被用來測試的產(chǎn)品 如元器件、組件、部件或整機，放入高低溫試驗箱中進行試驗時，為了保證被測試產(chǎn)品周圍環(huán)境能滿足試驗規(guī)范所規(guī)定的環(huán)境條件，高低溫試驗箱工作空間尺寸與被測試產(chǎn)品外廓尺寸之間應(yīng)該遵循以下幾點規(guī)定：
a 被測試產(chǎn)品的體積（W×D×H）不能超過試驗箱有效工作空間的（20-35）（推薦選用20）。對于在試驗中發(fā)熱的產(chǎn)品推薦選用不大于30 。
b 被測試產(chǎn)品的迎風(fēng)斷面積與該斷面上試驗箱工作腔總面積之比不大于（35-50）（推薦選用35）。
c 被測試產(chǎn)品外廓表面距試驗箱壁的距離至少應(yīng)該保持100-150mm，（推薦選用150mm）。
高低溫試驗箱性能指標(biāo)符合GB/T2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法,GB/T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法,GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則。 |
