高低溫箱GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
第1部分：試驗方法試驗A：低溫：簡介：本標準所涉及的高低溫箱低溫試驗適用于非散熱和散熱兩類試驗樣品。對于非散熱試驗樣品，試驗Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標準。本標準僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品(包括件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和(或)使用的適應性。這一低溫試驗不能用來評價試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應當采用試驗N:溫度變化試驗方法。低溫試驗方法分為以下三類:非散熱試驗樣品低溫試驗:——試驗Aa:溫度突變——試驗Ab:溫度漸變散熱試驗樣品低溫試驗:——試驗Ad:溫度漸變本試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算的。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定，則試驗持續(xù)時間從試驗箱(室)達到規(guī)定試驗溫度時開始計算。相關(guān)規(guī)范應規(guī)定:a)試驗箱(室)內(nèi)溫度變化速率;b)試驗樣品放入試驗箱(室)的時間;c)試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間;d)試驗樣品通電或加負載的時間。在這些條件下，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1-1989導則選定以上4個參數(shù)(以上條件下的修訂正在考慮之中)。 |
